Sfoglia per Correlatore
Mostrati risultati da 1 a 1 di 1
| Titolo | Anno | Autore | file(s) |
|---|---|---|---|
| Nanoscale electrical characterization by advanced conductive atomic force microscopy techniques of all oxide heterojunctions | 15-lug-2021 | Frroku, Saimir |
Mostrati risultati da 1 a 1 di 1
Legenda icone
- Accesso aperto
- Accesso riservato
- Embargo fino a